当赛普司SciAps的James Terrell来到客户所在地培训如何使用LIBS测试低铼材料时，没有人想到当天会产生一个赛恩谱斯 SciAps Z-902 C+的突破性解决方案。
他们首先使用手持分析仪拍摄样品校准块。赛普司SciAps和他们的标准spark OES单元一样准确地通过了这个初始测试。然而，巨大的挑战摆在面前。该公司需要测试尺寸为0.75英寸x 0.085英寸的低铼换热管，同时在研磨过程中不会损失太多的壁厚。数百根管子需要进行镍铬铜和碳测试。詹姆斯用千分尺测量了研磨前后的管径，研磨造成了接近0.002英寸的管壁损失，仍在API允许的范围内，但已接近极限。
spectro测试的另一个问题是，他们的光谱仪需要一个适配器来测试试管的ID，这使得很难测试多个试管。赛普司SciAps Z-902 C+在没有适配器和问题的情况下拍摄直径，并可以获得与其他设备相同的分析；更好的是，赛普司SciAps Z902在另一台设备测量一个试管的时间内测量了4到5个试管。SciAps Z的速度以4比1超过了竞争对手的型号。
尽管该公司对赛普司SciAps Z902的速度印象深刻，但他们仍然担心研磨过程。他们不能冒险让操作者磨入管壁太深，使管子不能使用。詹姆斯有了一个主意。他尝试分析试管的末端，看是否能得到同样的结果。詹姆斯准备好试管的末端，将其与分析仪对齐，并能够获得完美的分析结果。那些数字与外径分析基本相同。
James Terrell再次尝试，使用新技术拍摄了几个管端，以证明它可以有效地测试其余的管子。稍加练习，该公司的团队成员也能进行测试。这项工作可以很快完成，不用担心在如此薄的一块材料上的壁损失。
在那里，James还展示了赛普司SciAps X-550手持式X射线分析仪在其他元素上的性能，包括V和Nb，其性能超过了该公司目前使用的XRF设备。此外，X-550在他们的测试块上测得的P值为0.015%，这是他们目前的设备无法接近的。然后X-550在0.015%的已知标准上连续测量0.016%、0.016%、0.017%。
然后，James与公司代表一起构建了一个定制的报告模板，用于下载和审查低Re测试结果。通过培训，James解决了一个可怕的试管测试问题，改进了他们的XRF分析，并为他们的测试建立了报告模板。
赛普司SciAps公司是手持式XRF和LIBS分析仪的制造商，能够测量材料中的元素。这些突破性的仪器已经在各大行业的元素、矿物和化合物的便携式现场测量中扩大了应用。